
Im Labor für Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) können folgende Analysen durchgeführt werden: Isotopenanalysen, Spurenelemente, Geochronologie, Imaging, Depth Profiling, Partikelanalysen.
Ausstattung: fully equipped, large geometry SIMS instrument und zugehörge Instrumente
Kontaktperson: Dr. Michael Wiedenbeck