Powder X-ray diffractometer STOE StadiP

Kontakt: Dr. Pablo Forjanes, Rebecca Volkmann

Standort: B360

Unser Pulver-Röntgendiffraktometer (XRD) besteht aus zwei Einzelgeräten, die Röntgenstreuungsanalysen sowohl mit Cu- (λ=1,54 Å) als auch mit Ag-Strahlung (λ=0,56 Å) in Transmissionsgeometrie durchführen können. Mit XRD können sowohl kristalline als auch amorphe Proben analysiert werden, indem entweder konventionelle Beugungsmuster oder Totalstreuungsmuster mit hohem Q-Bereich zur Analyse der Paarverteilungsfunktion (PDF) gemessen werden. Die Messungen können bei Raum- oder erhöhter Temperatur bis zu 800 ⁰C durchgeführt werden.

Die Cu-Strahlung ist eher für die allgemeine Strukturanalyse kristalliner Proben geeignet. Die Proben können entweder in Debye-Scherrer- (Kapillar-) oder in Flachplattengeometrie analysiert werden. Für beide Geometrien sind Mehrfachprobenwechsler verfügbar. Das Cu-XRD ist mit einem gekrümmten Ge (111)-Monochromator im Einfallsstrahl ausgestattet und die gestreute Röntgenstrahlung wird mit einem DECTRIS MYTHEN2 R 1k-Photonenzähl-Detektor erkannt.

Ag-Strahlung ist besser geeignet für PDF-Messungen oder Materialien, die in der Cu-Röntgenstrahlung fluoreszieren, wie z. B. Fe-reiche Materialien. Die Proben können entweder in Debye-Scherrer- (Kapillar-) oder Flachplattengeometrie analysiert werden. Für Proben in Debye-Scherrer-Geometrie ist ein Hochtemperaturofen verfügbar. Das Ag-XRD ist mit einem gekrümmten Ge(111)-Monochromator im Einfallsstrahl ausgestattet und die gestreute Röntgenstrahlung wird mit zwei DECTRIS MYTHEN2 R 1k-Photonenzähl-Detektoren erkannt.