Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
Das Potsdamer Ionenmikrosonden- / SIMS-Labor
Standort: F162
Das Helmholtz-Zentrum Potsdam - Deutsches GeoForschungsZentrum (GFZ) betreibt ein umfassend ausgestattetes großgeometrisches Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS). Das Labor wird von einem weiten Spektrum peripherer Messinstrumente unterstützt.
Das SIMS-Labor ist eine für wissenschaftliche Benutzer frei zugängliche Einrichtung, welche die Bedürfnisse der globalen geochemischen Community unterstützt. Wissenschaftler aus ganz Europa und darüber hinaus sind dazu eingeladen uns zu kontaktieren, um die Möglichkeiten einer wissenschaftlichen Kooperation zu erörtern. Wir sind stets bemüht, qualitativ hochwertige, unkomplizierte und möglichst zügige Probenanalysen einschließlich Datenauswertung anzubieten.
SIMS-Grundlagen
Die Ionenmikrosonde, auch als Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS) bekannt, verwendet einen feinst fokussierten Ionenstrahl zur Untersuchung ausgewählter Probenbereiche. Ein kleiner Prozentsatz des aus der polierten Probenoberfläche abgetragenen Materials wird ionisiert und anschließend in ein Massenspektrometer eingeleitet, in welchem die Ionen entsprechend ihrem Masse-zu-Ladung-Verhältnis voneinander getrennt werden.
Verglichen mit anderen mikroanalytischen Messverfahren ist die hohe Empfindlichkeit der SIMS ein besonders wichtiges Merkmal:
Die Fähigkeit einzelne Ionen zu zählen führt bei vielen Elementen zu Nachweisgrenzen im Nanogramm-pro-Gramm-Bereich (auch ppb = part per billion Bereich genannt). Die extrem hohe Empfindlichkeit des Instruments ermöglicht die Analyse von extrem kleinen Probenmengen bis hinunter auf etwa 200pg (1 pg = 1 Billionstel Gramm). Dabei können Isotopenverhältnisse in Geomaterialien mit einer Genauigkeit von besser als 0.1 Promill oder einem Zehntausendstel bestimmt werden.
Weiterführende Informationen zur Sekundärionen-Massenspektronomie (SIMS) finden Sie unter folgendem Link:
- sims.gfz-potsdam.de (nur in englischer Sprache)