ICP-OES

Optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

Die ICP-OES ist eine Analysentechnik zur Bestimmung von Elementkonzentrationen über einen Konzentrationsbereich von µg/l bis g/l. Sie ist aufgrund kurzer Messzeiten auch für Routineanwendungen mit hohem Probendurchsatz geeignet.

Die Konfiguration des 5110 ICP-OES mit vertikalem Dual View (VDV) erlaubt sowohl axiale als auch radiale Plasmabeobachtung bei vertikal angeordneter Fackel. Durch Simultanmessung ist die Bearbeitung von Proben mit geringem Materialeinsatz bei kurzer Messzeit gewährleistet. Die ICP-Expert Software bietet neben verschiedenen Möglichkeiten zur Untergrundkorrektur auch die Fast-Automated Curve-fitting Technique (FACT) zur Interferenzkorrektur komplexer Spektren. Die Kalibrierung des Spektrometers kann mit Single- oder Multi-Element-Standardlösungen als externe Kalibrierung oder durch Analytaddition erfolgen.

Das 5110 ICP-OES wird zur Konzentrationsbestimmung von Hauptbestandteilen und Spurenelementen in verschiedenem geologischen Probenmaterial und in Wässern eingesetzt. Die zu analysierende Probe wird so vorbereitet, dass sie in flüssiger Form, üblicherweise als mineralsaure Lösung, vorliegt. Festes Probenmaterial wird zuvor mittels geeigneter Aufschlussverfahren in Lösung gebracht, störende Matrixelemente durch spezifische Trennverfahren aus der Probe entfernt. Flüssige Proben gelangen je nach Konzentration der zu bestimmenden Elemente unverdünnt oder nach geeigneter Verdünnungsstrategie zur Messung. Das Mitführen geologischer Standardreferenzmaterialien im Analysengang dient zur Absicherung der Richtigkeit der Analysenergebnisse.

Abhängig von der Aufschlussmethode, der Art des Probenmaterials und der Elementkonzentration in der Probe werden folgende Elemente bestimmt: Li, Be, B, Na, Mg, Al, Si, K, Ca, Sc, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Rb, Sr, Y, Zr, Cd, Sn, Ba, Pb, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu

Informationen zur Antragsstellung von Analysen und den allgemeinen Vertragsbedingungen entnehmen Sie bitte den nachstehenden PDF's (nur in Englisch verfügbar):

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