Labor für RFA Element Scanning
Das Labor für RFA (Röntgenfluoreszenz)-Element-Scanning konzentriert sich auf zerstörungsfreie und kontinuierliche Kernanalysen. Diese Analysen ermöglichen eine detaillierte geochemische Charakterisierung kompletter Sedimentkerne bis hin zu einzelnen Schichten und Körnern. Die Überbrückung dieser Skalen wird erreicht durch eine Kombination von RFA-Kernscans, Mikro-RFA-Scans von epoxyimprägnierten Sedimentblöcken oder Dünnschliffen, und Rasterelektronenmikroskop-Analysen (REM).
Die Entwicklungen und Forschungen konzentrieren sich auf die Verbesserung von Umwelt- und Klimainterpretationen durch:
- Integration von RFA-Analysen mit Kern- und Dünnschliffbeobachtungen
- Geochemische Proxies und Charakterisierung von Sedimenten durch multivariate statistische Analysen
Proben
- Bohrkern-Halbschalen bis zu einer Länge von 180 cm und Durchmessern zwischen 6 und 12 cm
Analysen
- Röntgenfluoreszenz-Spektrometer für nicht-destruktive und durchgehende Elementanalyse (Al bis Ba; 0,2 mm Auflösung)
- Line-scan-Kamera für optisches Kernbild und RGB-Aufnahmen
- Röntgenkamera für Röntgenbilder
Technische Spezifikationen
- Cr (1,9 kW) oder Mo (3 kW) Röntgenröhre
- Flachstrahl-Röntgenoptik zur Fokussierung des primären Röntgenstrahles auf der Probenoberfläche (Spotfläche 0,2 x 22 mm)
- Peltier-gekühlter Si-Drift-Detektor und digitale MCA (Zählrate 300x103 cps)
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Proben
- Polierte und mit Epoxidharz imprägnierte Sedimentproben, Gesteinsdickschliffe und Speläothemproben
Analysen
- Röntgenfluoreszenz-Spektrometer für ultra-hochauflösende Elementanalyse und Mapping (Na bis Ba; 20 µm)
- Optisches Probenbild
Technische Spezifikationen
- Probenkammer (Probentisch 20 x 17 cm) für Analyse unter Vakuum
- Kleinleistungsröhre (Rh-Anode, max. Leistung 0,03 kW)
- Polykapillare Röntgenlinse (VariSpot) zur Fokussierung des primären Röntgenstrahles (Spotgröße 20 µm)
- Zwei Si-Drift-Detektoren (je Zählrate 300x103 cps)
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Proben
- Unbeschichtete Proben bis zu 100 mm
Analysen
- Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Spektroskopie Elementaranalyse
Technische Spezifikationen
- Optische Vergrößerung: 3-16x
- SEM Vergrößerung: 160 - 200k
- Betriebsspannung: 4,8 - 20,5 kV
- Vakuum: 1 Pa
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